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技術文章

xrf分析儀原理

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  X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:nm)描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出的電子會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。
 
  波長元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,同時發射出具有一定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:λ=K(Z− s) −2式中K和S是常數。
 
  能量而根據量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個光子具有的能量為:E=hν=h C/λ式中,E為X射線光子的能量,單位為keV;h為普朗克常數;ν為光波的頻率;C為光速。因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。

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